Skład i grubość powłok oznaczamy metodą fluorescencji rentgenowskiej, za pomocą urządzenia x-ray XDAL 237 Fischerscope (producent Helmut Fischer). Metoda ta nie niszczy badanego materiału. Spektrometr jest wyposażony w zmotoryzowany stolik pomiarowy umożliwiając wykonywanie dużych ilości pomiarów w krótkim czasie. Urządzenie umożliwia wykonywanie pomiarów grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów do kilkudziesięciu mikrometrów. Możliwy jest również jednoczesny pomiar kilku powłok w układach wielowarstwowych, a także badanie składu powłok stopowych.
Jakościowe i ilościowe oznaczenia składu pierwiastkowego.
Grubość oraz równomierność rozkładu nałożonych powłok.
